рающийся при включении аппарата включении высокого напряжения. v-

Под счетчиком часов работы рентгеноьс. симости напряжения на трубке от потожения

адоез электя .выключение Ви.тгхбкГ

щая схема

Но/змализатор импульсов

Ограничитель импульсод

Высокодольт-

нь/й выпрямитель

, Блои„РЖ\ мовнонаонавЛ ныйреа-отатньш усилитель)

вантову

/исследуемый овраэец

Рентгв

твстя

труот

Готометри-\честе

\Исслевуемый офазвц

\Сиетчик Шатав

Готометри -

чесиое устройство

Генераторное уст/уайотво

Щит управления ренлгёеновс-наго аппарата

BЛOk.,PЖ

{оачонастд-ный реостатный \усилитель}

Элентроше -

нитный ртавилизршр/ напряжения тта СРЭ

Сеть

Рис. П.4. Структурная схема рентгеновской установки

напряжения. Между кнопками расположена неоновая лампа «нет подачи воды» 10, загорающаяся при размыкании контакта водяной блокировки. Под вольтметром находится ручка 12 коммутатора на семь положений - корректор напряжения на входе автотрансформатора. Положение коммутатора «выкл.» соответствует включению аппарата. Под миллиамперметром расположена ручка 2 коммутатора, являющегося регулятором напряжения. Первое положение ком-224

ооя ответствует включени! кого напряжения. Между коммутато-..„. • .лировки накала трубки,

дится и; иметра предусматривает два вида прибора -

метрическую, - -••%.. лый. Ниже дается описание вертикального опти-

. Ло;«>,у.г>" .....н

Оптиметр (рис. П.6) состоит из .трубки, штатива и измерительных наконечников. Основные данные прибора: предельные размеры измеряемого изде-

Рис. П.5. Щит управления рентгеновской установки

ЛИЯ по длине и высоте 180 мм, по диаметру 150 мм, цена деления шкалы 0,001 мм, пределы измерения по шкале ±0,1 мм. Погрешность показаний прибора для любого деления шкалы в пределах от О до ±60 мкм составляет ±0,0002 мм, от О до ±100 мкм она равна ±0,0003 мм. Габаритные размеры прибора ЗООХЗООХ Х500 мм. Масса 18 кг.

Толщина линзообразных кварцевых пластин измеряется с помощью специального приспособления в виде кольца, которое кладется на стол прибора.

Принцип действия и оптическая схема прибора. В основу оптической схемы прибора положен принцип действия телескопической автоколлимациониой трубы. Зеркало, которое служит для получения автоколлимационного изображения, связано с измерительным стержнем и при перемещении стержня отклоняется на соответствующий угол.

Наблюдаемое автоколлимационное изображение шкалы, находящееся в фокальной плоскости объектива, перемещается относительно неподвижного индекса пропорционально перемещению измерительного стер/кня. В вертикальном оптиметре линия измерения расположена вертикально. Контактными измерительными поверхностями служат поверхности наконечников, надеваемых на измерительные штифты трубки оптиметра.

Измеряемое изделие крепится на столе, механизмы которого позволяют точно становить линию измерения в требуемом сечении изделия по оси трубки оптиметра.

Рис. п.6. Оптиметр вертикальный

.Г.ТГ.ГСГьаюраклмИйся -

гическое назначенир -- М

Отсчеты при измерениях производя.., установке проекционной насадки шкала зеленое стекло). Отсчеты по шкале и индекс; изводиться с расстояния около 250 мм. -"i..

Оптическая схема трубки оптиметра изображена Ш. П.7. В нее входят: зеркало /, объектив 2, призма 3 полного отражения, сетка 4, шторки 5 и окуляр S. Осветительную систему составляют зеркало б в оправе и призма 7, установленная в рамке окуляра. Сетка 4 представляет собой стеклянную плос-

лопараллельную пластинку со шкалой и индексом, причем деления шкалы наие-

>сены на одной половине пластинки, а индекс - на другой.

Рис. пл. Оптическая схема трубки оптиметра

Рис. П.8. Шкала, видимая в поле зрения трубки Оптиметра

Лучи света, отражаясь от зеркала 6, через призму 7 освещают шкалу. Пройдя призму 3 и объектив 2, они падают параллельным пучком на зеркало 1, отражаются от него и снова попадают в объектив 2, затем проходят призму 3, сетку 4, окуляр 5 и попадают в глаз наблюдателя. При установке окуляра по глазу наблюдатель видит одновременно изображение шкалы и индекс, нанесенный на сетке. При осевом перемещении измерительного штифта трубки оптиметра зеркало / будет отклоняться на некоторый угол ф, вследствие чего изображение шкалы в поле зрения окуляра будет перемещаться относительно неподвижного индекса.

На рнс. П.8 изображена шкала, видимая в поле зрения трубки оптиметра. Шкала имеет 200 делений, расположенных симметрично по обе стороны от нуля (по 100 делений с каждой стороны). 226

37 Belser .В., Hicklin W. Н. А -ия всей системы оптиметра подобра-

" 4 .,j„4.h com- -6 шкалы на одно деление соответствует

ei. M cMi •о,- J""- штифта на 0,00! мм.

Электронно-1 v/iOMep. Обеспечивает высокую точность измерения,

предназначен для "i этического измерения частоты и периода синусоидальных электрических колебаний, отношений частот, интервалов времени, периода, и длительности импульсов, счета числа импульсов и некоторых других измерений.

Электронно-счетный частотомер измеряет частоту синусоидального спгнала. в диапазоне 10 Гц - 20 МГц, чувствительность 60-100 ыВ, динамический диапазон в.ходных напряжений 0,1 -1,5 В, частоту импульсного сигнала любой полярности в диапазоне 10 Гц-5 МГц, чувствительность 0,2-0,3 В, динамический диапазон входных напряжений 0,3-4 В, частоту синусоидального сигнала в диапазоне 0,1 -120 МГц, чувствительность 30-100 .чВ, динамический диапазон входных напряжений 0,1-3 В.

Частотомер обеспечивает время индикации результатов измерения при ав-томатическо.м режиме запуска в пределах от 0,3 с±0,15 с до 5 с+2,5 с. Индикация результатов измерения однострочная, девятиразрядная.

Частотомер сохраняет все характеристики при запуске от внешнего генератора опорной частоты 1 или 5 МГц с уровнем напряжения в пределах не менее 0,5-5 В для 5 МГц и 1-5 В для 1 МГц.

Принцип действия частотомера основан на подсчете числа периодов неизвестной частоты за известный с высокой точностью отрезок времени, называемый временем измерения. Прн времени измерения 1 с число подсчитанных периодов и есть значение измеряемой частоты в герцах. На цифровом табло прибора автоматически регистрируется результат измерения с указанием порядка и: размерности. При другом времени измерения (0,001; 0,01; 0,1; 10 с) для по-лучения непосредственного отсчета автоматически переносится запятая п инду-. цируется соответствующая размерность. Различное время измерения получается, путем последовательного деления частоты опорного генератора декадными ступенями.

Питание частотомера осуществляется от сети переменного тока напряжением 220 В±10"/о, частотой 50 Гц+10"/о. Потребляемая мощность частотомера; 100 В-А. Габаритные размеры 490X135X422 мм, масса 21 кг.

Структурная схема, устройство и работа составных частей и схемы блоков прибора, а также порядок работы даны в техническом описании и. инструкции по эксплуатации.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1. Акишии А. И. Влияние ионизирующей радиации на пьезоэлектрические-свойства пластин кварца. - В кн.: Радиационная физика неметаллических кристаллов. - Минск: Наука и техника, 1970.

2. Альтшуллер Г. Б. Управление частотой кварцевых генераторов. - М.: Связь,. 1975.

3. Афанасьева Н. А., Каменцев Н. Е., Франк-Каменецкий В. А. Кристаллогра-• фия. - М.: Наука, 1959, т. 4, вып. 3.

4. ГОСТ 16962-71. Изделия электронной техники и электротехиики. Механические и климатические воздействия. Требования и методы испытаний.

5. ГОСТ 6503-67. Резонаторы кварцевые герметизированные на частоты колебаний от 0,75 до 100 МГц.

6. ГОСТ 11599-67. Резонаторы кварцевые вакуумные на частоты колебаний от 4 кГц до 100 МГц.

7. ГОСТ 18708-73. Резонаторы кварцевые герметизированные на частоты колебаний от 50 до 750 кГц.

8. ГОСТ 20297-74. Резонаторы кварцевые. Классификация и система условных обозначений.

9. Гройс О. Ш. О влиянии свойств кварца на стабильность частоты кварцевых резонаторов. - Радиотехника и электроника, 1965, т. 10, вып. 2.

10. Кэди У. Пьезоэлектричество н й-

Изд-во иностр. лит., 1949. "б , ......216

11. Лобанов Е. М. Влияние облучения в ак:-.. " тва . . . . 2,1R частоту колебаний кварцевых пластин. - РадЧ .ч)8, т. 13, вып. 10. • . .. " > •

12. Малов В. В. Пьезорезонансные датчики.- М.: Энергия, 1977.

13. Мартынов В. А., Райков П. Н. Кварцевые резонаторы. - М.: Сов. радио, 1976.

14. Мэзон У. Пьезоэлектрические кристаллы и их применение в ультраакустн-ке. - М.; Л.: Изд-во иностр. лит., 1952.

15. Мэзон У. Применение пьезоэлектрических кристаллов н механических резонаторов в фильтрах и генераторах. - В кн.: Физическая акустика/Под ред. У. Мэзона. -М.: Мир, 1966.

16. Нечаев Н. Т. Вероятностные расчеты нестабильности частоты. - М.: Энергия, 1969.

17. Окунь Е. Л. Радиопередающие устройства.-М.г Сов. радио, 1973.

18. ОСТ 11338.002-75. Резонаторы кварцевые. Основные размеры.

19. ост И ПО.338.001-72. Элементы кварцевые кристаллические. Условные обозначения срезов.

20. Плонский А. Ф., Филиппский Ю. К. Состояние и перспективы развития кварцевой стабилизации. - Электросвязь, 1965, № 9.

21. Пружанский М. М. Эквивалентные электрические параметры пьезокварце-вых пластин, возбуждаемых на гар.мониках. - Радиотехника, 1957, № 8.

22. Публикация МЭК № 122-1 и 122-2. Кварцевые резонаторы для генераторов. Раздел 1; Стандартные величины н условия; Раздел 2: Условия испытаний; Раздел 3; Руководство по применению кварцевых резонаторов для генераторов.- М.: Изд. Комитета по участию СССР в Международных энергетических объединениях, 1964.

23. Публикация МЭК № 302. Стандартные определения и методы измерения пьезоэлектрических резонаторов, работающих в диапазоне частот до 30 МГц. - М.: Изд. Комитета по участию СССР в Международных энергетических объединениях, 1972.

24. Смагин А. Г., Ярославский М. И. Пьезоэлектричество кварца и кварцевые резонаторы. - .М.: Энергия, 1970,

V 25, Справочник по кварцевым резонаторам/В, Г, Андросова, В, Н. Банков, А, И. Дикиджн и др.; Под ред. П. Г. Позднякова. - М.: Связь, 1978.

26. Стасевич В. Н. Повышение точности рентгеновских измерений угла среза кварцевых пластин.- Обзоры пои электронной технике. Радиокомпоненты, 1969, вып. 30(99).

27. Тюльпанов А. А. Технология производства кварцевых пластин. - М.; Л.: Госэиергоиздат, 1955.

28. Шитиков Г. Т., Цыганков П. Я-, Орлов О. М. Высокостабильные кварцевые автогенераторы. - М.: Сов. радио, 1971.

29ГЯрославский М. И. Метод расчета пьезоэлементов кварцевых резонаторов, выполненных в форме двояковыпуклых линз. - Вопросы радноэлекг-роники, 1961, № 4.

30. Ярославский М. И. О влиянии электродного слоя металла иа эквивалентные параметры пьезоэлементов, совершающих толщинные колебания. - Вопросы радиоэлектроники, 1963, № 10.

31. Ярославский М. И., Смагин А. Г. Конструирование, изготовление и применение кварцевых резонаторов. - М.: Энергия, 1971.

32. Anderson О. L., Hristenen Н., Anstrig Р. The mounting technology of elect-rikal leads to semiconductors, - J. Appl. Phys., 1957, v. 28, 8.

33. Ballato A. D., McKnight R. V. Frequencycontrol. - Phys. Day, 1966, v. 19, № 8r

34. Baulk K. Crystal oscillators. - Electron. Equipm. News, 1966, v. 8, № 1.

35. Bechmann R. Uber die Temperaturabhangigheit der Frequenz von AT-und BT-Quarzresonatoren. - Archiv d. elektr. Obertragung, 1955, Bd. 9, № 11.

36. Bechmann R. Die Temperaturkoeffizienten hoherer Ordnung der Elastizitatsmo-duln und Elastizitatskoeffizienten von Alpha-Quarz.-Archiv d. elektr. Obertragung, 1962, Bd 16, Кя 6.

48, 49. 50, 51 52,

53. 54. 55.

quartz resonators of fundamental and .c.uiation effects,-Proc. 16th Ann, Sympos.

go smaller as accuracy and useincreases. - Ca-

Brown С S Thomas L. A. The effect of impurities on the growth of synthetic quartz. - Physies and Chem. Sol., 1960, v. 13, № 3/4.

Gerber E A., Sykes R. A. State oi the art-quartz crystal units and oscillators. - Proc. IEEE, 1966, V. 54, № 2,

Glowinski A. Progres recents des quartz les quartz etalons. - Oude electr., 1966, t, 46, № 469,

Griffin J. P. Improvements in Technique for thermo-compressing mounting wi-es to quartz crystal plates, - Proc, 17 th, Ann. Sympos. Frequency Control. bSA, 1963,

Grote H. Precision Crystal Units. - Nachrichtentechnik Z„ 1966, Bd 16,

№ 12,

Kyncel L, A contribution to the process of quartz polishing,-Czechosl. J. Phys., 1952, V. 12, № 2.

Munn R. i. Temperature compensated quartz crystal units. - Proc. 16 th Ann.

Sympos. Frequency Control. USA, 1962.

Pajewski W. High-stability quartz units. - Prace Inst, tele-i radiotechn., 1965, V. 9, .M. 1.

Pajewski W. Properties of high-stability quartz crystals. - Czechosl. J. Phys.,

1966, V. 16, Кч 5.

Reed F. A. The specifiging quartz crystals. - West. Electron; News, 1966, V. 14, № 6.

SchnabI W. Die Frequenztoleranz von serienmaBig hergestellten AT-Schwing-quarzcn uber 0,8 MHz. - Nachrichtentechnik, 1963, Bd 13, № 6. Seed A. Development of high-quaiity quartz units BT-cut. - Brit J. Appl.

Phys., 1965, V. 16, Ло 9.

Smith W. L., Warner A. W. Fundamental on an improved crystal controlled standard. - Proc. 12 th Ann. Sympos. Frequency Control. USA, 1958. Stanly J. 1V\. Effects of transient radiation on frequency control devices. - Transient Radiation Effects on Electronics/Battelle Memorial inst. - Handbook, 1965.

Tyler L. A. Design of low frequency AT-cut quartz resonatore. - Proc. 14th Ann. Sympos. Frequency Control. USA, 1960.

Warner A. W. Studing of ageing of crystal units quartz resonators. - lEE

Trans,, 1965, V, SU-12. Лэ 2.

iSaA notfo";the1gdng of high precision piezoelectric crystal units:-Czec.hosl. J. Phys., 1966, v. 16, № 5.