Главная  Электрооптические эффекты 

[0] [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13] [14] [15] [16] [17] [18] [19] [20] [21] [22] [23] [24] [25] [26] [27] [28] [29] [30] [31] [32] [33] [34] [35] [36] [37] [38] [39] [40] [41] [42] [ 43 ] [44] [45] [46] [47] [48] [49] [50] [51] [52] [53] [54] [55] [56] [57] [58] [59] [60] [61] [62] [63] [64] [65] [66] [67] [68] [69] [70] [71] [72] [73] [74] [75] [76] [77] [78]

рассеяния почти полностью независимы от температуры, если вещество находится в нематической фазе.

Проводимость в нематиках определяется ионным равновесием и обратно пропорциональна вязкости и квадратному корню из константы диссоциации. Вязкость и константа -равновесия экспоненциально зависят от температуры, что необходимо учитывать.

Контроль электрооптических параметров ЖКИ устройств. Видимое излучение занимает диапазон спектра 0,38 ... 0,76 мкм. Однако глаз в этом диапазоне реагирует на монохроматическое излучение с различными длинами волн неодинаково. Максимальная чувствительность имеет место на длине волн ?i,=0,556 мкм (зеленый цвет). Глаз различает разные степени яркости и с большой точностью устанавливает их равенство. Однако он не может оценить, во сколько раз или на какую величину отличаются разные яркости. Еще одним недостатком визуальной фотометрии является ее субъективный характер.

В настоящее время субъективную визуальную фотометрию практически вытеснила объективная фотометрия, опирающаяся на физические приемнию! излучения. Наиболее удобным прибором для работы с малыми потоками излучения являются фотоэлектронные умножители, действие которых основано на преобразовании оптического излучения от наблюдаемых объектов в электрические сигналы. От качества и характеристик приемника зависит полнота преобразования оптического сигнала и передачи информации в электронный тракт для последующей обработки. Для работы в видимой области спектра следует выбирать фотоумножители с кривыми чувствительности, перекрывающими видимую область спектра.

При определении яркости важно, чтобы на приемник не попадало постороннее излучение и излучение того же источника, отраженное и рассеянное окружающими предметами. Для того, чтобы избежать погрешностей, связанных с этим неучитываемым излучением, поверхности окружающих предметов надо чернить. Однако и этого мало. Коэффициент отражения даже самых черных покрытий не равен нулю, и черненные поверхности при их освещении имеют хоть и малую, но конечную яркость. Для устранения этих влияний следует применять защитные экраны - диафрагмы, которые



размещаются так, чтобы после однократного отражения от любой поверхности свет не мог попасть на приемник.

Учитывая вышеописанные требования к выбору приемника излучения для фотометрирования оптических характеристик динамического рассеяния света немати-ческим ЖК в индикаторных устройствах, а также для-устранения зеркальной составляющей от плоской поверхности индикаторного устройства (рис. 3.49) выбран угол падения света 45°, а угол отражения света 0°.


Г5-гб

П1 1

ГБ-ЪЪ о

тп-г

Рис. 3.50. Установка контроля электрооптических параметров ЖКИ

Для проведения исследований и контроля электрооптических параметров ЖКИ используют установку, узлы которой приведены на рис. 3.50. Основой оптической части измерительной установки является микроскоп. Для устранения внешнего светового воздействия объектив микроскопа защищен конусом (5), внутри которого размещены две диафрагмы, а внутренняя его



поверхность зачернена. В тубус одного из окуляров микроскопа встроен фотоэлектронный умножитель ФЭУ-35 (/), основные характеристики которого следующие: область спектральной чувствительности 300 . .. 750 нм, максимум спектральной чувствительности 400 нм, темповой ток 6-10-8 А; напряжение питания 1200 В. Для питания ФЭУ-35 применен высоковольтный стабилизированный источник напряжения ВС-22 или ВС-23.

Оптическая система микроскопа с встроенным фотоэлектронным умножителем, исследуемый жидкокристаллический индикатор, размещенный на столике микроскопа, и лампы подсветки (ЛП) (2) помещены в светонепроницаемый корпус (4), внутренняя поверхность которого зачернена. Фокусировка микроскопа на исследуемый образец производится через другой окуляр. Световой поток от лампы подсветки ЛП через конденсор под углом 45° направлен к исследуемому образцу ЖКИ. Отраженный световой поток от плоскости ЖКИ через ограничивающие диафрагмы защитного конуса и объектив микроскопа попадает на фотокатод ФЭУ-35, помещенный в фокусе оптической системы микроскопа МБС.

Для исследования электрооптических характеристик ЖКИ в установку входят: универсальный источник постоянного напряжения УИГ1-2; генератор синусоидального напряжения звуковой частоты 20 Гц ... 20 кГц и амплитудой напряжения до 30 В (ГЗ-33); генератор прямоугольных импульсов Г5-26, обеспечивающий импульсы длительностью до 200 мс, частотой следования 1 ... 5 Гц при амплитуде до 50 В; развертывающее устройство постоянного напряжения во времени, состоящее из электродвигателя с потенциометром, укрепленным на его оси; милливольтмикроамперметра М1200 или гальванометра М195 для контроля анодного тока фотоэлектронного умножителя ФЭУ-35.

В качестве регистрирующей аппаратуры можно использовать осциллограф С1-19Б, двулучевой осциллограф С1-16, двулучевой запоминающий осциллограф С8-11 и двукоординатный самописец типа ПДС-021М.

На установке можно производить контроль основных электрооптических параметров ЖКИ: контрастность, коэффициент рассеяния света, пороговое и управляющее напряжение, время отклика и релаксации, удельное сопротивление ЖК. С помощью прибора М1200 фиксируется ток в цепи фотоэлектронного умножителя ФЭУ-35,



[0] [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13] [14] [15] [16] [17] [18] [19] [20] [21] [22] [23] [24] [25] [26] [27] [28] [29] [30] [31] [32] [33] [34] [35] [36] [37] [38] [39] [40] [41] [42] [ 43 ] [44] [45] [46] [47] [48] [49] [50] [51] [52] [53] [54] [55] [56] [57] [58] [59] [60] [61] [62] [63] [64] [65] [66] [67] [68] [69] [70] [71] [72] [73] [74] [75] [76] [77] [78]

0.0008